فایل های مشابه شاید از این ها هم خوشتان بیاید !!!!
توضیحات محصول دانلود پاورپوینت کامل اشنایی و کاربرد دستگاه XRF (کد6700)
دانلود پاورپوینت کامل اشنایی و کاربرد دستگاه XRF
\n \n\n
عنوان های پاورپوینت : \n\n \n\nاشنایی و کاربرد دستگاه XRF\n\nفهرست مطالب\n\nXRF\n\nمقدمه\n\nاجزای دستگاه XRF\n\nاجزای دستگاه XRF\n\nاساس کاردستگاه XRF\n\nآماده سازی نمونه\n\nانواع دستگاه XRF\n\nجمع بندی\n\n \n\n \n\n
\n\n
قسمت ها و تکه های اتفاقی از فایل\n\n \n\nآشکارسازو جمع کننده بر روی یک دایره قرار دارند و بلور در مرکز آن دایره قرار دارد.\n\n \n\n \n\nبا ارسال پرتو ثانویه به قسمت ثبت کننده طیفی توسط دستگاه رسم می شود که این طیف تغییر شدت برحسب زاویه می باشد.\n\n \n\n \n\nدر این شکل پیک ها به پرتو های مشخصه عنصرهای گوناگون موجود در نمونه تعلق دارد.\n\n \n\nبه طور معمول برای هر عنصر، پیک KαوKβ و برای عناصر سنگین حتی Lαدر شکل مشخص می شود.\n\n \n\nوقتی که هدف آنالیز کیفی است طول موج هایی که سبب پدید آمدن پیکی در الگو می شوند به کمک رابطه 2dsinθ=λ تعیین خواهند شد. بنابراین می توان طول موج پرتو مشخصه را تعیین کرد.\n\n \n\nبا مراجعه به جداولی که طول موج مشخصه همه عنصرها درآن وجود دارد می توان نوع عنصر را تعیین کرد.\n\n \n\n \n\nزمانی که آنالیز کمی نمونه مورد نظر باشد با استفاده از شدت اندازه گیری شده برای یک طول موج و مقایسه آن با شدت دریافت شده از یک نمونه استاندارد (شاهد) می توان درصد آن عنصر را در نمونه مشخص کرد.\n\n \n\nبرای این منظور باید با استفاده از نمونه های استاندارد که درصد مشخصی از عنصر مورد نظر را دارند، یک منحنی کالیبراسیون رسم کرد و سپس با اندازه گیری شدت پرتو در نمونه مجهول و مقایسه آن با این منحنی مقدار آن عنصر را تعیین کرد.\n\nآماده سازی نمونه\n\nنمونه در این روش به شکل استوانه با قطر حدود cm3 وضخامت نیم میلیمتر می باشد که در جا نمونه فلزی قرار داده می شود و پرتو ایکس از زیر به آن می تابد.\n\n \n\nسطح نمونه ای که مورد آزمایش قرار می گیرد باید سطحی صاف باشد چون اگر نمونه برجستگی داشته باشد باعث می شود که قسمت هایی از آن در پشت برجستگی پنهان شده و آنالیز نشوند.\n\n \n\nاگر نمونه مورد آزمایش ماده معدنی باشد باید آن را به صورت قرص درآورده و سپس مورد آزمایش قرار دهیم.\n\nدستگاه های XRF از نوع تفکیک طول موج (WDS) یا تفکیک انرژی (EDS)هستند در نوع (WDS) پرتو ایکس خروجی از نمونه مجهول پیش از ورود به آشکار ساز توسط بلور آنالیز کننده تفکیک می شود اما در نوع (EDS)
پرتو ایکس خروجی از نمونه مجهول بدون آن که توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود وارد آشکارساز می شود.\n\nانواع
دستگاه XRF\n\nسرعت آنالیز دستگاه EDS بسیار بیشتر از دستگاه WDS است.\n\n \n\nمشکل EDS نیاز آن به خنک شدن آشکارساز و حساسیت پایین در مقایسه با WDS است.\n\n \n\nمعمولا دستگاههای مدرن مجهز به هردو EDS وWDS هستند که از EDS برای آنالیز کیفی و از WDS برای آنالیز کمی می توان استفاده کرد.\n\n \n\nجمع بندی\n\nدر روش فلورسانس پرتو ایکس، پرتو ایکس اولیه به نمونه مجهول تابیده و با برانگیختن اتم ها باعث پدید آمدن پرتو ایکس ثانویه می شود.\n\n \n\nبا تعیین طول موج یا انرژی پرتو ایکس ثانویه، عنصرهای مورد نظر را می توان شناسایی کرد.\n\n \n\nدستگاه XRF توانایی شناسایی عناصر سبک وگازهای نجیب را ندارد.\n\n \n\n \n\n \n\n۳۰ تا ۷۰ درصد پروژه / پاورپوینت / پاور پوینت / سمینار / طرح های کار افرینی / طرح توجیهی / پایان نامه/ مقاله ( کتاب ) های اماده به صورت رایگان میباشد
