دانلود پاورپوینت مفهوم   AFM وکاربرد آن

\n

عنوان قبلی : AFM

\n

\n

عنوان های پاورپوینت  : 

\n

\n

AFM

\n

میکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscopy

\n

اصول عملکرد میکروسکوپ AFM

\n

AFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)

\n

\n

AFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)

\n \n\n \n\n

---

\n\nقسمت ها و تکه های اتفاقی از فایل\n\n \n\nمفهوم\n\nAFM\n\nوکاربرد آن\n\n2pro.ir\n\nAFM\n\n \n\nمیکروسکوپ نیروی اتمی Atomic Force Microscopy\n\nمیکروسکوپ نیروی اتمی AFM از آنجا که قدرت تحلیل بی مانندی  دارد به عنوان  یک ابزار با  ارزش در  بررسی مواد معرفی شده  است.  قدرت  AFM در  تصویر  کردن صفحات در گازها یا در زیر مایعات، توانایی آن را در حل مسایل صنعتی بسیار بالا برده است.  شایان  ذکر است  این پیشرفت های حاصل شده در STM  بود که باعث  اختراع دستگاهی با ویژگیهای AFM گردید.\n\n \n\nاصول عملکرد میکروسکوپ AFM\n\nدر AFM سوزن تیزی که به صورت تک اتمی است، برروی یک سطح  نرم اعوجاج و فنری نصب شده است. ثابت فنر این  پایه کمتر از ثابت  فنری  است که اتمهای نمونه را درکناریکدیگر  نگه می دارد.این سوزن سطح نمونه را  در فاصله ای بسیار نزدیک ( در حد آنگستروم ) روبش می نماید. در این هنگام بین سوزن و  نمونه  نیروی هایی  برقرار است که  سوزن را در فاصله  معینی از سطح نگه می دارد. وقتی سوزن روی سطح حرکت      می کند، از آنجایی که می بایست فاصله سوزن تا سطح ثابت باشد، سوزن مطابق با توپوگرافی  سطح شروع به بالا و پایین می نماید. همین امر شاخص های مطالعه سطح را  فراهم می آورد.\n\nدر شکل (13 ) طرحی از سوزن و نمونه ارایه شده است.  جنس این  سوزن می تواند از نیترید سیلیسیم باشد. در شکل (14 ) نمایی از  سوزن هرمی  شکل از جنس SiN مشاهده می شود. به کارگیری این سوزن در دستگاه های تجاری مرسوم  است.  شعاع  ظاهری  انحنای  نوک  آن نیز  می تواند   بین 20 تا 50 نانومتر باشد. در شرایط ایده آل نوک این سوزن باید به یک اتم ختم شود.\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\n \n\nنوسانات سوزن در هنگام روبش نمونه با استفاده از قوانین فیزیک نور ( اپتیک ) رصد می شود. در دستگاه های AFM امروزی یک منبع تولید نور لیزر،  یک دسته  اشعه نوری را به  روی  فنر می تاباند. با  لرزش و جابجایی  فنر،  زاویه تابش لیزر منحرف می گردد. انحراف صفحه فنر به اندازه زاویه  منجر به انحراف اشعه لیزر به اندازه  2 خواهد شد. اشعه لیزر منعکس شده، توسط مقاطع دیودی حساس به نور ردگیری می شود. بدین ترتیب پستی و بلندی های اتمی سطح نمونه قابل رویت خواهد بود . شکل (15 )  تصویری کلی از ردیابی در دستگاه AFM را نشان می دهد.\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\n \n\nدرAFM  سوزن همواره متاثر از سطح نمونه است که آن را نحوه تماس  می نامند . براثر  نفوذ  پوسته  الکترونی  سوزن و  اتم های ریزساختار، در سطح  همواره  یک  نیروی  دافعه  وجوددارد.  این نیروی دافعه، نیرویی درمحدوده کوتاه می باشد. علاوه براین نیرو، نیروهای دامنه بلند نیز وجوددارند که  میتوانند جذب  ویا  دفع کننده باشند  این  نیروها می توانند  شامل  نیروی بار واکنش  درونی  دو قطبی ( Dipole Interaction) نیروی دو قطبی(polarization Force ) و نیروهای  پراکندگی  واندروالس  (Vander Waals Didpersion Forces )   باشند.  جذب و  دفع  این  نیروها  را میتوان درشکل (16) مشاهده نمود\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\n \n\nبراین اساس  درکنار  AFM   فن آوریهای  میکروسکوپی  مشابهی براساس نیرو نیز وجود خواهند داشت، مانند  میکروسکوپ  بر پایه الکتریکی ، میکروسکوپ برپایه ی نیروی مغناطیسی و میکروسکوپ بر پایه نیروی واندروالس که می توانند  بدون  تماس با  نمونه و  با استفاده از نیروهای بلند دامنه عمل نمایند. دراین فن آوری ها نیروی تماس موضعی زیاد حذف  می شوند. اما به دلیل  ایجاد شدن  فاصله زیادی ( درحد چند نانومتر)  میان  سوزن  و نمونه ،  نمی توان  به قدرت تفکیک اتمی رسید.\n\nواکنش بین سوزن و  نمونه را  میتوان  توسط  منحنی  نیرو- فاصله شرح داد. شکل(17) بیانگر این  منحنی  بوده و  چگونگی  تغییرات نیرو درهنگام نزدیک شدن سطح نمونه به سوزن را نشان میدهد.\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\n \n\nکاربردهای AFM\n\nبا استفاده از    AFMتصاویر گوناگونی  از فلزات  مختلف ،   نیمه هادی ها و عایق های مانند میکا، گرافیت،  هالوژن ها و کربنات  به دست آمده.\n\nبه طور کلی قابلیت های  AFM را  میتوان در موارد  زیر جستجو نمود:\n\nقابلیت تصویر دهی درابعاد اتمی، ازمیکرون به پایین.\n\nتصاویر حاوی اطلاعات مستقیم عمق و فررفتگی برای اندازه گیری زبری\n\nسرعت  تصویر دهی از  هادی ها  و عایق هابدون  نیاز به  پوشش\n\nامکان مشاهده مستقیم فراینده های سطحی  درمحیط مایع و یا  درهوا\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\nAFM  (ATOMIC FORCE MICROSCOPY)\n\nبا تشکر از توجه شما\n\nتو پروژه\n\n2pro.ir\n\n \n\n \n\n۳۰ تا ۷۰ درصد پروژه / پاورپوینت / پاور پوینت / سمینار / طرح های کار افرینی / طرح توجیهی /  پایان نامه/  مقاله ( کتاب ) های اماده   به صورت رایگان میباشد