دانلود پاورپوینت ساختار های نانو (کد6518)

عنوان های این پاورپوینت عبارت اند از :\n\nنانو تکنولوژی\n\nعلم مهندسی معکوس ریز ساخته ها\n\nمطالعه به کمک میکروسکوپ\n\nمیکروسکوپ نوری\n\nمیکروسکوپ های نوری و الکترونی\n\nانواع میکروسکوپ الکترونی\n\nTransmission Electron Microscope (TEM)\n\nScanning Electron Microscope (SEM)\n\nScanning Probe Microscopy (SPM)\n\nTEM میکروسکوپ الکترونی عبوری\n\nSEM میکروسکوپ الکترونی روبشی\n\nSPM میکروسکوپهای روبشی کاوشی (نام گروهی)\n\nتاریخچه میکروسکوپ الکترونی\n\nکاربردهای میکروسکوپ الکترونی\n\nاصول کار میکروسکوپ الکترونی\n\nمعرفی برخی اصطلاحات\n\nمیکروسکوپ انتقال الکترونی TEM\n\nاجزای میکروسکپ TEM\n\nمیکروسکوپ نوری و الکترونی\n\nطرح لنز الکترومغناطیس\n\nمیکروسکوپ SEM\n\nاطلاعات بدست آمده از میکروسکوپ SEM\n\nتفاوت بین TEM و SEM\n\nمیکروسکوپ AFM\n\nمیکروسکوپ نیروی اتمی AFM\n\nسوزن میکروسکوپ AFM\n\nمیکروسکوپ روبشی تونلیSTM\n\nمیکروسکوپ پیمایشگر تونلی STM\n\nمیکروسکوپ STM در نمای نزدیک\n\nمیکروسکوپی نوری میدان نزدیک روبشیSNOM\n\nباریکه یونی متمرکزFIB\n\nمطالعه اثرات پراش\n\nطیف سنج پراش اشعه ایکس XRD\n\nموارد استفاده طیف سنج پراش اشعه ایکس XRD\n\nطیف سنج فلوئورسانس اشعه ایکس XRF\n\nطیف نگاری الکترونی برای آنالیز شیمیاییXPS) ESCA وUPS)\n\nسایر روشهای طیف سنجی رایج\n\nمراجع\n\nتکه هایی از متن این پاور پوینت عبارت اند از :\nکاربردهای میکروسکوپ الکترونی\nتوپوگرافی: اطلاعات سطحی- ترکیب مواد - سختی و انعکاس جسم را به ما نشان میدهد.\nمرفولوژی: شکل وسایزاجزای سازنده جسم مورد نظر را به ما نشان میدهد.\nاجزای سازنده هر جسم را به ما نشان میدهد.\nاطلاعات کریستالوگرافیک : چگونگی آرایش اتمهای یک جسم را به ما میدهد.\nاصول کار میکروسکوپ الکترونی\nدر این میکروسکوپ به جای نور معمولی از بیم الکترونی بسیار پرانرژی برای ایجاد تصویر استفاده میشود.\nبرای ایجاد این بیم الکترونی یک منبع الکترونی وجود دارد که توسط یک پتانسیل الکتریکی مثبت به سمت نمونه هدایت میشود.\nتمرکز این بیم الکترونی بر روی نمونه توسط لنزهای مغناطیسی انجام میشود.\nمعرفی برخی اصطلاحات\nMagnification : بزرگنمایی به معنای افزایش قطر یک ساختمان است.\nResolution : قدرت تفکیک به معنای کوچکترین فاصله بین دو نقطه است که می توان دو نقطه مجزا را تشخیص داد و در غیراینصورت به شکل یک نقطه دیده میشوند.\nتوجه: لزوما بزرگنمایی بیشتر به معنای قدرت تفکیک بالاتر نیست.\nاولترامیکروتوم\nوسیله ای برای برش دادن نمونه ها به مقاطع بسیار نازک جهت مشاهده توسط TEM است.\nالکترونها با توان 125-50 کیلوولت نمی توانند از ضخامت بیش از 150 نانومتر بگذرند.\nبرای بهترین قدرت تفکیک باید ضخامت برشها 60-30 نانومتر باشد.\n\nمیکروسکوپ SEM\nمیکروسکوپ پیمایشگر الکترونی که به آن Scanning Elecron Microscope یا به اختصار SEM گویند یکی از ابزارهای مورد استفاده در فناوری نانو است که با کمک بمباران الکترونی تصاویر اجسامی به کوچکی 10 نانومتر را برای مطالعه تهیه می کند.\nساخت SEM سبب شد تا محققان بتوانند نمونه های بزرگتر را به سادگی و با وضوح بیشتر مطالعه کنند. بمباران نمونه سبب می شود تا از نمونه الکترونهایی به سمت صفحه دارای بار مثبت رها شود که این الکترون ها در آنجا تبدیل به سیگنال می شوند. حرکت پرتو بر روی نمونه مجموعه ای از سیگنال ها را فراهم می کند که بر این اساس میکروسکوپ می تواند تصویری از سطح نمونه را بر صفحه کامپیوتر نمایش دهد.\nSEM اطلاعات زیر را در خصوص نمونه در اختیار میگذارد:\n- توپوگرافی نمونه: خصوصیات سطوح\n- مورفولوژی: شکل، اندازه و نحوه قرارگیری\nذرات در سطح جسم\n- ترکیب: اجزایی که نمونه را می سازند\nمیکروسکوپ AFM\nخواص قابل اندازه گیری با این میکروسکوپ شامل مورفولوژی هندسی، توزیع چسبندگی، اصطکاک، ناخالصی سطحی، جنس نقاط مختلف سطح، کشسانی، مغناطیس، بزرگی پیوندهای شیمیایی، توزیع بارهای الکتریکی سطحی، و قطبش الکتریکی نقاط مختلف می باشد .\nدر عمل از این قابلیتها برای بررسی خوردگی، تمیزی، یکنواختی، زبری، چسبندگی، اصطکاک، اندازه وغیره استفاده می شود.