دانلود پاورپوینت آموزش انواع آزمون های کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن

\n

کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن

\n

\n

عنوان های پاورپوینت  : 

\n

\n

آموزش انواع آزمون های کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن

\n

کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن

\n

مقدمه آزمون های کنترل کیفی

\n

آزمون های کنترل کیفی

\n

آزمون های بحرانی

\n

آزمون های پذیرش

\n

آزمون های دوره ای

\n

آزمون های پس از تعمیر

\n

آزمون های کنترل کیفی (CT (1

\n

آزمون های کنترل کیفی (CT (2

\n

صحت و تکرار پذیری ولتاژ تیوب سی تی اسکنTube Voltage Accuracy and Reproducibility

\n

معیار پذیرش:

\n

معیار    تعلیق:

\n

تکرارپذیری ولتاژ

\n

صحت و تکرار پذیری تایمر

\n

صحت تایمر

\n

تکرارپذیری زمان

\n

خطی بودن و تکرار پذیری خروجی پرتو (Radiation Output)

\n

خطی بودن خروجی پرتو (Radiation Output)

\n

لایه نیمه کننده  (Half Value Layer)

\n

نشت پرتو از محفظه تیوبTube Housing Leakage

\n

روش اندازه گیری شاخص دز سی تی(CTDI)

\n

CT Dose Index

\n

تغییرات CTDI در هوا نسبت به ضخامت اسلایس

\n

تغییرات CTDI در هوا نسبت به mA

\n

تغییرات CTDI در هوا نسبت به زمان

\n

تغییرات CTDI در هوا نسبت به kV

\n

CT Image quality

\n

کنتراست تصویرCT Image Contrast

\n

عدد سی تیCT number

\n

صحت عدد CT

\n

صحت عدد در موقعیت های مختلف بیمار CT

\n

صحت عدد CT در الگوریتم های مختلف بازسازی تصویر

\n

صحت عدد CT با تغییر ضخامت اسلایس

\n

مقیاس کنتراستcontrast scale

\n

یکنواختی عدد CTHomogeneity

\n

تصحیح نویز برای شرایط آزمایش

\n

خطی بودن عدد CT

\n

تاثیر سرعت تخت در ضخامت اسلایس

\n

اندازه گیری ضخامت اسلایس توسط فانتوم AAPM

\n

اندازه گیری صحت محل انتخاب اسلایس

\n

روش آزمایش برای اندازه گیری MTF

\n

تاثیر سایز دتکتور در قدرت تفکیک

\n

قدرت تفکیک کنتراست کمlow contrast resolution

\n

Low Contrast Resolution

\n

تاثیر mAs در قدرت تفکیک کم

\n

اندازه گیری قدرت تفکیک توسط فانتوم AAPM

\n

اندازه گیری قدرت تفکیک توسط فانتوم AAPM

\n

5- آزمونهای مکانیکی Mechanical Accuracy

\n

7- صحت مکانیکی Mechanical Accuracy

\n

Alignment pin

\n

AAPM CT Performance Phantom

\n

امکانات

\n

AAPM CT مراحل آماده سازی

\n

Part no. 610-04Slice thickness insert

\n

part no. 610-06Optional - Low Contrast insert

\n

part no. 610-07 (Optional) Whole Body resolution and noise ring

\n

part no. 610-09 (Optional) LOW Contrast INSERT SPHERICALTARGETS

\n

پایان

\n

مراجعCT QC References

\n \n\n \n\n

---

\n\nقسمت ها و تکه های اتفاقی از فایل\n\n \n\nتصحیح نویز برای شرایط آزمایش\n\nخطی بودن عدد CT\n\nضخامت اسلایس وقتی با اسکنر اسپیرال کار شود پیچیده تر است\n\nعواملی که در ضخامت اسلایس موثر هستند:\n\nX-ray Beam Collimation (especially in single slice CT scanners)\n\nDetector Width (especially in multidetector CT scanners)\n\nHelical Pitch/Table speed\n\nHelical Interpolation Algorithm\n\nتوجه : در برخی از اسکنر های سی تی ضخامت اسلایس مستقل از سرعت تخت می باشد و مقدار آن با آلگوریتم مورد استفاده تنظیم میشود.\n\nتاثیر سرعت تخت در ضخامت اسلایس\n\nاندازه گیری ضخامت اسلایس توسط فانتوم AAPM\n\nاندازه گیری صحت محل انتخاب اسلایس\n\nمعمولا برای تعیین کنتراست بالا یا قدرت تفکیک فاصله، از اشیائی با  نسبت سیگنال به نویز بالا استفاده میشود.\n\nروشهای اندازه گیری:\n\nاسکن یک مفتول سیمی و محاسبه MTF\n\nاسکن فانتوم با الگوی میله ای و محاسبه MTF\n\nعوامل موثر در کنتراست بالا:\n\nعرض دتکتورها\n\nفیلتر بازسازی\n\nابعاد کانون\n\nکیفیت اشعه\n\nابعاد پیکسل\n\nفانتوم با الگوی میله ای:\n\nاین فانتوم  از ماده ای با دانسیته کم تشکیل شده و داخل آن چند سری میله از جنس اکریلیک  قرار دارد.\n\nقطر میله ها در هر سری، برابر با فاصله بین میله ها است.\n\nقطر میله ها در سری های مختلف بین 0.05cm تا 0.5cm تغییر می کند.\n\nبه دو برابر قطر هر میله یک Line-Pair (LP) گفته می شود.\n\nمثال : اگر میله بقطر 0.1cm قابل تفکیک باشد، در این صورت:\n\nادامه\n\nروش آزمایش برای اندازه گیری MTF\n\nابزار تست lp/mm را مقابل فانتوم سر قرار داده و با شرایط استاندارد یک اسلایس تهیه کند.\n\nبرای هر سری از دسته خطوط روی تصویر مقادیر میانگین عددCT و انحراف استاندارد (نویز) را اندازه گیری کنید.\n\nمقدار نویز برای حداقل دسته خطوط قابل تفکیک را برابر 2%  کنتراست فرض کنید.\n\nکنتراست نسبی سایر دسته خطوط را متناسب با نویز در هر سری خط در نظر گرفته و مقدار آنرا محاسبه کنید (کنتراست متناسب است با نویز).\n\nمنحنی تغییرات کنتراست نسبت به LP/mm   را رسم کنید .\n\nمنحنی بدست آمده منحنی MTF می باشد.\n\nنتیجه را با مقدار پیشنهادی سازنده مقایسه کنید.\n\nMTF\n\nتاثیرسایز دتکتور در قدرت تفکیک\n\nقدرت تفکیک کنتراست کمlow contrast resolution\n\nقدرت تفکیک کنتراست کم،  بیانگر قدرت تمیز دادن اشیائی است که از نظر دانسیته اختلاف بسیار کمی با زمینه اطراف دارند (معمولا اختلاف 4HU تا 10HU).\n\nقدرت تفکیک کنتراست کم، بطور قابل ملاحظه ای به noise محدود می شود ( بعلت کم بودن اختلاف شئی با زمینه، NOISE  باید حداقل باشد) .\n\nتست قدرت تفکیک کم باید برای اشیاء با اختلاف دانسیته کم انجام شود و ابعاد اشیاء نیز باید متغیر باشد و هرچه شئی کوچکتر قابل رویت باشد قدرت تفکیک کنتراست کم، بیشتر است.\n\nنویز بیشترین مزاحمت را برای بررسی تصاویر بافت های کم کنتراست ایجاد می کند.\n\nبنابراین بکارگیری فانتوم مناسب برای بررسی low-contrast بسیار حائز اهمیت است.\n\nدر فانتوم ویژه اندازه گیری low contrast،  معمولا اشیائی که دانسیته آنها نسبت به محیط فانتوم بسیار کم باشد در سایز های مختلف جاسازی شده است. (معمولا اختلاف عدد سی تی این اشیاء با محیط بین 4HU تا 10HUاست).\n\nLow Contrast Resolution\n\nیک نمونه از فانتوم low-contrast :\n\nداخل فانتوم چند گروه میله شکل به قطر 2mm تا 6mm وجود دارد.  داخل هرمیله ماده ای با اختلاف دانسیته 0.6% تزریق می شود تا عدد CT داخل میله و محیط اطراف در حدود 6HU شود.\n\nتصویر زیر از یک فانتوم low-contrast تهیه شده است .\n\nبطوریکه مشاهده میشود با افزایش mAS قدرت تشخیص low contrast افزایش یافته است.\n\nروش :\n\nشرایط استاندارد اسکن را انتخاب کنید.\n\nفانتومی که داخل آن حفره هائی حاوی مواد مختلف با تفاوت دانسیته کم قرار دارد را اسکن نمائید.\n\nعدد CT هر حفره و محیط اطراف آن را یادداشت نمائید.\n\nکنتراست هر حفره را بدست آورید (اختلاف عدد CT حفره و زمینه اطراف آن) .\n\nتعداد حفره های قابل رویت را شمارش کنید.\n\nنتایج باید با مشخصات سازنده مطابقت داشته باشد.\n\nروش :\n\nشرایط استاندارد اسکن را انتخاب کنید.\n\nفانتومی که داخل آن حفره هائی حاوی مواد مختلف با تفاوت دانسیته کم قرار دارد را اسکن نمائید.\n\nعدد CT هر حفره و محیط اطراف آن را یادداشت نمائید.\n\nکنتراست هر حفره را بدست آورید (اختلاف عدد CT حفره و زمینه اطراف آن) .\n\nتعداد حفره های قابل رویت را شمارش کنید.\n\nنتایج باید با مشخصات سازنده مطابقت داشته باشد.\n\nتاثیر mAs در قدرت تفکیک کم\n\nتصویر a  در شرایط 240mAs و تصویر b در شرایط 80mAs تهیه شده است.\n\nدر تصویر a شئی با قطر 4mm قابل رویت است در صورتیکه در تصویر b شئی باقطر 6 میلیمتر نیز بسختی رویت می شود.\n\nمثال : فرض کنید، آب نمک 0.5% در حفره ها تزریق شده است و قطر حفره 0.125  اینچی (3mm)  قابل رویت است\n\nAlignment pin\n\nامکانات\n\nSlice Thickness\n\nSpatial Resolution and line spread function\n\nAAPM CT مراحل آماده سازی\n\nPart no. 610-04Slice thickness insert\n\n \n\n \n\n30 تا 70 درصد پروژه | پاورپوینت | سمینار | طرح های کارآفرینی و  توجیهی |  پایان-نامه |  پی دی اف  مقاله ( کتاب ) | نقشه | پلان طراحی |  های آماده به صورت رایگان میباشد ( word | pdf | docx | doc )