ساخت پاوپوینت با هوش مصنوعی
کم تر از 5 دقیقه با هوش مصنوعی کافه پاورپوینت ، پاورپوینت بسازید
برای شروع ساخت پاورپوینت کلیک کنید
شما در این مسیر هستید :خانه / محصولات / Powerpoint / دانلود پاورپوینت آموزش انواع آزمون های کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن (کد14080)
سفارش انجام پاورپوینت - بهترین کیفیت - کم ترین هزینه - تحویل در چند ساعت 09164470871 ای دی e2proir
دانلود پاورپوینت آموزش انواع آزمون های کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن (کد14080)
شناسه محصول و کد فایل : 14080
نوع فایل : Powerpoint پاورپوینت
قابل ویرایش تمامی اسلاید ها دارای اسلاید مستر برای ویرایش سریع و راحت تر
امکان باز کردن فایل در موبایل - لپ تاپ - کامپیوتر و ...
با یک خرید میتوانید بین 342000 پاورپینت ، 25 پاورپوینت را به مدت 7 روز دانلود کنید
هزینه فایل : 105000 : 54000 تومان
فایل های مشابه شاید از این ها هم خوشتان بیاید !!!!
دانلود پاورپوینت آشنایی با اجزاء و ساختار و اساس کار ماشین دایکست جنرال و ماشین دایکست سروو (DCM) (کد14094)
دانلود پاورپوینت آشنایی با اهداف مورد نظر اتوماسیون فیدرهای فشار متوسط و بررسی مراحل اجرای پروژه اتوماسیون فیدرهای فشار متوسط (کد14092)
دانلود پاورپوینت مقدمه های بر شبکه‌های عصبی و الگوریتم‌های تکاملی و بررسی تکامل شبکه‌های عصبی مصنوعی (کد14090)
دانلود پاورپوینت تحلیل و بررسی اهمیت مشکل کاهش تاخیر و استفاده از زمان بندی خواب/بیدار متغیر برای نود‌های مختلف بر اساس نیاز بار ترافیکی آنها (کد14088)
دانلود پاورپوینت آموزش نحوه تشخیص پوست در فضای رنگ مفهوما یکنواخت با استفاده از مدل بیضوی مسطح و بررسی کاربردهای تشخیص نواحی پوست (کد14085)
دانلود پاورپوینت آشنایی با مهمترین اقدامات لازم برای مراقبت، پیشگیری و کنترل بیماری‌های قابل انتقال در بلایا (کد14079)
دانلود پاورپوینت مسئله توزیع اقتصادی بار بین واحدهای حرارتی و بررسی تاثیر تلفات شبکه انتقال در توزیع اقتصادی بار بین نیروگاهها (کد14078)
دانلود پاورپوینت بررسی روشهای مدلسازی سیستمهای پیچیده از طریق شبیه سازی سیستمهای گسسته پیشامد (کد14070)
توضیحات محصول دانلود پاورپوینت آموزش انواع آزمون های کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن (کد14080)
دانلود پاورپوینت آموزش انواع آزمون های کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن
\nکنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن
\n\nعنوان های پاورپوینت :
\n\nآموزش انواع آزمون های کنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن
\nکنترل کیفی دستگاههای سی تی اسکن
\nمقدمه آزمون های کنترل کیفی
\nآزمون های کنترل کیفی
\nآزمون های بحرانی
\nآزمون های پذیرش
\nآزمون های دوره ای
\nآزمون های پس از تعمیر
\nآزمون های کنترل کیفی (CT (1
\nآزمون های کنترل کیفی (CT (2
\nصحت و تکرار پذیری ولتاژ تیوب سی تی اسکنTube Voltage Accuracy and Reproducibility
\nمعیار پذیرش:
\nمعیار تعلیق:
\nتکرارپذیری ولتاژ
\nصحت و تکرار پذیری تایمر
\nصحت تایمر
\nتکرارپذیری زمان
\nخطی بودن و تکرار پذیری خروجی پرتو (Radiation Output)
\nخطی بودن خروجی پرتو (Radiation Output)
\nلایه نیمه کننده (Half Value Layer)
\nنشت پرتو از محفظه تیوبTube Housing Leakage
\nروش اندازه گیری شاخص دز سی تی(CTDI)
\nCT Dose Index
\nتغییرات CTDI در هوا نسبت به ضخامت اسلایس
\nتغییرات CTDI در هوا نسبت به mA
\nتغییرات CTDI در هوا نسبت به زمان
\nتغییرات CTDI در هوا نسبت به kV
\nCT Image quality
\nکنتراست تصویرCT Image Contrast
\nعدد سی تیCT number
\nصحت عدد CT
\nصحت عدد در موقعیت های مختلف بیمار CT
\nصحت عدد CT در الگوریتم های مختلف بازسازی تصویر
\nصحت عدد CT با تغییر ضخامت اسلایس
\nمقیاس کنتراستcontrast scale
\nیکنواختی عدد CTHomogeneity
\nتصحیح نویز برای شرایط آزمایش
\nخطی بودن عدد CT
\nتاثیر سرعت تخت در ضخامت اسلایس
\nاندازه گیری ضخامت اسلایس توسط فانتوم AAPM
\nاندازه گیری صحت محل انتخاب اسلایس
\nروش آزمایش برای اندازه گیری MTF
\nتاثیر سایز دتکتور در قدرت تفکیک
\nقدرت تفکیک کنتراست کمlow contrast resolution
\nLow Contrast Resolution
\nتاثیر mAs در قدرت تفکیک کم
\nاندازه گیری قدرت تفکیک توسط فانتوم AAPM
\nاندازه گیری قدرت تفکیک توسط فانتوم AAPM
\n5- آزمونهای مکانیکی Mechanical Accuracy
\n7- صحت مکانیکی Mechanical Accuracy
\nAlignment pin
\nAAPM CT Performance Phantom
\nامکانات
\nAAPM CT مراحل آماده سازی
\nPart no. 610-04Slice thickness insert
\npart no. 610-06Optional - Low Contrast insert
\npart no. 610-07 (Optional) Whole Body resolution and noise ring
\npart no. 610-09 (Optional) LOW Contrast INSERT SPHERICALTARGETS
\nپایان
\nمراجعCT QC References
\n \n\n \n\n\n\nقسمت ها و تکه های اتفاقی از فایل\n\n \n\nتصحیح نویز برای شرایط آزمایش\n\nخطی بودن عدد CT\n\nضخامت اسلایس وقتی با اسکنر اسپیرال کار شود پیچیده تر است\n\nعواملی که در ضخامت اسلایس موثر هستند:\n\nX-ray Beam Collimation (especially in single slice CT scanners)\n\nDetector Width (especially in multidetector CT scanners)\n\nHelical Pitch/Table speed\n\nHelical Interpolation Algorithm\n\nتوجه : در برخی از اسکنر های سی تی ضخامت اسلایس مستقل از سرعت تخت می باشد و مقدار آن با آلگوریتم مورد استفاده تنظیم میشود.\n\nتاثیر سرعت تخت در ضخامت اسلایس\n\nاندازه گیری ضخامت اسلایس توسط فانتوم AAPM\n\nاندازه گیری صحت محل انتخاب اسلایس\n\nمعمولا برای تعیین کنتراست بالا یا قدرت تفکیک فاصله، از اشیائی با نسبت سیگنال به نویز بالا استفاده میشود.\n\nروشهای اندازه گیری:\n\nاسکن یک مفتول سیمی و محاسبه MTF\n\nاسکن فانتوم با الگوی میله ای و محاسبه MTF\n\nعوامل موثر در کنتراست بالا:\n\nعرض دتکتورها\n\nفیلتر بازسازی\n\nابعاد کانون\n\nکیفیت اشعه\n\nابعاد پیکسل\n\nفانتوم با الگوی میله ای:\n\nاین فانتوم از ماده ای با دانسیته کم تشکیل شده و داخل آن چند سری میله از جنس اکریلیک قرار دارد.\n\nقطر میله ها در هر سری، برابر با فاصله بین میله ها است.\n\nقطر میله ها در سری های مختلف بین 0.05cm تا 0.5cm تغییر می کند.\n\nبه دو برابر قطر هر میله یک Line-Pair (LP) گفته می شود.\n\nمثال : اگر میله بقطر 0.1cm قابل تفکیک باشد، در این صورت:\n\nادامه\n\nروش آزمایش برای اندازه گیری MTF\n\nابزار تست lp/mm را مقابل فانتوم سر قرار داده و با شرایط استاندارد یک اسلایس تهیه کند.\n\nبرای هر سری از دسته خطوط روی تصویر مقادیر میانگین عددCT و انحراف استاندارد (نویز) را اندازه گیری کنید.\n\nمقدار نویز برای حداقل دسته خطوط قابل تفکیک را برابر 2% کنتراست فرض کنید.\n\nکنتراست نسبی سایر دسته خطوط را متناسب با نویز در هر سری خط در نظر گرفته و مقدار آنرا محاسبه کنید (کنتراست متناسب است با نویز).\n\nمنحنی تغییرات کنتراست نسبت به LP/mm را رسم کنید .\n\nمنحنی بدست آمده منحنی MTF می باشد.\n\nنتیجه را با مقدار پیشنهادی سازنده مقایسه کنید.\n\nMTF\n\nتاثیرسایز دتکتور در قدرت تفکیک\n\nقدرت تفکیک کنتراست کمlow contrast resolution\n\nقدرت تفکیک کنتراست کم، بیانگر قدرت تمیز دادن اشیائی است که از نظر دانسیته اختلاف بسیار کمی با زمینه اطراف دارند (معمولا اختلاف 4HU تا 10HU).\n\nقدرت تفکیک کنتراست کم، بطور قابل ملاحظه ای به noise محدود می شود ( بعلت کم بودن اختلاف شئی با زمینه، NOISE باید حداقل باشد) .\n\nتست قدرت تفکیک کم باید برای اشیاء با اختلاف دانسیته کم انجام شود و ابعاد اشیاء نیز باید متغیر باشد و هرچه شئی کوچکتر قابل رویت باشد قدرت تفکیک کنتراست کم، بیشتر است.\n\nنویز بیشترین مزاحمت را برای بررسی تصاویر بافت های کم کنتراست ایجاد می کند.\n\nبنابراین بکارگیری فانتوم مناسب برای بررسی low-contrast بسیار حائز اهمیت است.\n\nدر فانتوم ویژه اندازه گیری low contrast، معمولا اشیائی که دانسیته آنها نسبت به محیط فانتوم بسیار کم باشد در سایز های مختلف جاسازی شده است. (معمولا اختلاف عدد سی تی این اشیاء با محیط بین 4HU تا 10HUاست).\n\nLow Contrast Resolution\n\nیک نمونه از فانتوم low-contrast :\n\nداخل فانتوم چند گروه میله شکل به قطر 2mm تا 6mm وجود دارد. داخل هرمیله ماده ای با اختلاف دانسیته 0.6% تزریق می شود تا عدد CT داخل میله و محیط اطراف در حدود 6HU شود.\n\nتصویر زیر از یک فانتوم low-contrast تهیه شده است .\n\nبطوریکه مشاهده میشود با افزایش mAS قدرت تشخیص low contrast افزایش یافته است.\n\nروش :\n\nشرایط استاندارد اسکن را انتخاب کنید.\n\nفانتومی که داخل آن حفره هائی حاوی مواد مختلف با تفاوت دانسیته کم قرار دارد را اسکن نمائید.\n\nعدد CT هر حفره و محیط اطراف آن را یادداشت نمائید.\n\nکنتراست هر حفره را بدست آورید (اختلاف عدد CT حفره و زمینه اطراف آن) .\n\nتعداد حفره های قابل رویت را شمارش کنید.\n\nنتایج باید با مشخصات سازنده مطابقت داشته باشد.\n\nروش :\n\nشرایط استاندارد اسکن را انتخاب کنید.\n\nفانتومی که داخل آن حفره هائی حاوی مواد مختلف با تفاوت دانسیته کم قرار دارد را اسکن نمائید.\n\nعدد CT هر حفره و محیط اطراف آن را یادداشت نمائید.\n\nکنتراست هر حفره را بدست آورید (اختلاف عدد CT حفره و زمینه اطراف آن) .\n\nتعداد حفره های قابل رویت را شمارش کنید.\n\nنتایج باید با مشخصات سازنده مطابقت داشته باشد.\n\nتاثیر mAs در قدرت تفکیک کم\n\nتصویر a در شرایط 240mAs و تصویر b در شرایط 80mAs تهیه شده است.\n\nدر تصویر a شئی با قطر 4mm قابل رویت است در صورتیکه در تصویر b شئی باقطر 6 میلیمتر نیز بسختی رویت می شود.\n\nمثال : فرض کنید، آب نمک 0.5% در حفره ها تزریق شده است و قطر حفره 0.125 اینچی (3mm) قابل رویت است\n\nAlignment pin\n\nامکانات\n\nSlice Thickness\n\nSpatial Resolution and line spread function\n\nAAPM CT مراحل آماده سازی\n\nPart no. 610-04Slice thickness insert\n\n \n\n \n\n30 تا 70 درصد پروژه | پاورپوینت | سمینار | طرح های کارآفرینی و توجیهی | پایان-نامه | پی دی اف مقاله ( کتاب ) | نقشه | پلان طراحی | های آماده به صورت رایگان میباشد ( word | pdf | docx | doc )
